膜厚仪-一六仪器-厚膜仪

江苏一六仪器 PCB板材 线路板大板件类X荧光光谱测厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，膜厚仪，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪的特点

　　1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用，能够准确对焦，厚膜仪，提高量测效率。

　　2、具有焦点距离切换作用，适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测

　　3、 膜厚仪 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成的损坏。

　　4、选用Mo靶材X射线管，量测贵金属更灵敏。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有先进的技术，膜厚仪原理，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

汽车紧固件，五金电镀件类镀层测厚分析仪

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

膜厚测试仪的预热 ：关机超过3个小时开机必做。点击“波数”，将波谱校准片放入仪器，将Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，设定测量时间为6S重复测量次数为30~50次，点击Go键，等待自动连续测量完成。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

微聚焦射线管、先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：

1. 放射性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

4. 电解测厚法：需要破坏涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。